Máy đo độ dầy lớp phủ bằng tia X

Máy đo độ dày bằng tia X với phương pháp đo không tiếp xúc và không phá hủy mẫu. Máy có thể đo và phân tích cho 1 lớp phủ, 2 lớp phủ, lớp phủ hợp kim và lớp phủ lỏng thông qua chức năng điều khiển các trục tự động, đo điểm 

Ngoài ra máy đo độ dày lớp phủ bằng tia X còn phân tích được các vật liệu độc hại và kim loại nặng  

Máy đo độ dầy lớp phủ bằng tia X là gì?

Vì lượng năng lượng phát ra khi tia X được phát ra trên phần lớp phủ có mối tương quan với độ dày của vật liệu,
Độ dày được đo bằng cách sử dụng huỳnh quang tia X kích thích hoặc bị hấp thụ bởi vật liệu và lớp phủ dày.
Huỳnh quang tia X của lớp phủ, huỳnh quang tia X được phát hiện ở dưới cùng của kim loại là một nguyên tắc.

X-Ray Coating thickness gauge/ Hazardous materials analyzer

Model: iEDX-200AT

Tính năng kỹ thuật:

Phương pháp đo	Phân tích tán xạ năng lượng tia X
Kiểu mẫu	Nhiều lớp phủ, rắn/ lỏng/  bột
Ống X-Ray	W Target 50kVp, 1mA
Bộ lọc	5 bộ lọc tự động thay đổi
Hệ thống đầu dò	SDD(Silicon Drift Detector), Si-Pin Diode(Peltier System)
Độ phân giải năng lượng	135 eV FWHM at Mn Kα
Các nguyên tố dò	Na(11) ~ U(92)
Vùng đo	0.1, 0.2, 0.4, 0.5, 1 mm
Phương pháp phân tích	FP/Calibration Curve , hấp thụ, huỳnh quang
Stage monitoring	2stage CCD Camera
Hệ thồng điều khiển	Desk-Top, Notebook, giao diện USB
Vùng đo mẫu	500 X 470 X 200 mm (W x D x H), wide PCB support
Khoảng di chuyển mẫu	200 X 200 X 150 mm (X x Y x Z), wide PCB support
Kích thước máy	500 X 700 X 570 mm (W x D x H)
Điện áp cung cấp	110/220 VAC 50Hz
Trọng lượng máy	85Kg (NET)

Ứng dụng các lĩnh vực

Lĩnh vực yêu cầu / kiểm tra không phá hủy
Phụ tùng ô tô, bảng mạch điện tử, kết nối điện tử và điện thoại di động và sản phẩm công nghệ thông tin
Đo độ dày lớp phủ của kim loại quý
Nghiên cứu sản phẩm, phát triển sản phẩm và kiểm soát chất lượng